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Page 1 sur 74

Behaviour Driven Development for Hardware Design
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  • Auteur(s) : Melanie Diepenbeck, Ulrich Kühne, Mathias Soeken, Daniel Grosse et Rolf Drechsler
  • Revue: IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology
  • Date : Octobre 2018
  • Réf. : vol. 11, pp. 29-45
  • Mots-clés:
  • DOI: 10.2197/ipsjtsldm.11.29
  • Réf. HAL :
  • URL
  • Clé de citation: MelanieDiepenbeck2018
  • Catégorie : Article de revue avec comité de lecture
  • Domaine(s) : Informatique/Architectures Matérielles, Informatique/Ingénierie assistée par ordinateur, Informatique/Modélisation et simulation, Informatique/Systèmes embarqués
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Groupe: SEN
2018 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC)
[details] [modif]
  • Auteur(s) : Laurent Sauvage et Joan Daemen
  • Conférence : Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography
  • Maison d'édition: IEEE Computer Society
  • Date : Septembre 2018
  • Réf. :
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: LS:FDTC-18
  • Catégorie : Actes complets d'un colloque
  • Domaine(s) :
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Groupe: SEN
Compressed Sensing for Wideband HF Channel Estimation
[details] [modif]
  • Auteur(s) : Elaine Crespo Marques, Nilson Maciel, Lirida Alves de Barros Naviner, Hao Cai et Jun Yang
  • Conférence : 4th International Conference on Frontiers of Signal Processing
  • Lieu: Poitiers, France
  • Date : Septembre 2018
  • Réf. : pp. 1-5
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: EM:ICFSP-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Traitement du signal et de l'image
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Groupe: SEN
Analysis of Mixed PUF-TRNG Circuit Based on SR-Latches in FD-SOI Technology
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  • Auteur(s) : Jean-Luc Danger, Risa Yashiro, Tarik Graba, Yves Mathieu, Abdelmalek Si-Merabet, Kazuo Sakiyama, Noriyuki Miura, Makoto Nagata et Sylvain Guilley
  • Conférence : EuroMicro Digital System Design (DSD2018)
  • Lieu: Prague
  • Date : Août 2018
  • Réf. :
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: JLD:DSD-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Electronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: non spécifiée
  • État: à paraître
  • Département: COMELEC
  • Groupe: SEN
Pre-Silicon Embedded System Evaluation as new EDA for Security Verification
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  • Auteur(s) : Sofiane Takarabt, Kais Chibani, Youssef Souissi, Laurent Sauvage, Sylvain Guilley, Adrien Facon et Yves Mathieu
  • Conférence : International Verification and Security Workshop (IVSW)
  • Lieu: Platja d’Aro, Spain
  • Date : Juin 2018
  • Réf. :
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: LS:IVSW-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Electronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: non spécifiée
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Groupe: SEN
Optimum NMOS/PMOS Imbalance for Energy Efficient Digital Circuits
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  • Auteur(s) : Francisco Veirano, Fernando Silveira et Lirida A. B. Naviner
  • Conférence : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
  • Lieu: Florence, Italy
  • Date : Mai 2018
  • Réf. :
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: FV:ISCAS-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique, Sciences de l'ingénieur/Electronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Projet structurant: NanoElec
  • Groupe: SEN
Enabling Resilient Voltage-Controlled MeRAM Using Write Assist Techniques
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  • Auteur(s) : Hao Cai, You Wang, Lirida Alves de Barros Naviner, Jun Yang, Wang Kang et Weisheng Zhao
  • Conférence : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
  • Lieu: Florence, Italy
  • Date : Mai 2018
  • Réf. :
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: HC:ISCAS-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Projet structurant: NanoElec
  • Groupe: SEN
Design Space Exploration of Magnetic Tunnel Junction based Stochastic Computing in Deep Learning
[details] [modif]
  • Auteur(s) : You Wang, Yue Zhang, Zhabg Youguang, Weisheng Zhao, Hao Cai et Lirida A. B. Naviner
  • Conférence : To appear in Proceedings of ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI)
  • Lieu: Chicago, Illinois, USA
  • Date : Mai 2018
  • Réf. : pp. 23-25
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: YW:GLSVLSI-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Projet structurant: NanoElec
  • Groupe: SEN
Impact of Aging on Template Attacks
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  • Auteur(s) : Naghmeh Karimi, Sylvain Guilley et Jean-Luc Danger
  • Conférence : GLSVLSI
  • Lieu: Chicago
  • Date : Mai 2018
  • Réf. : pp. 455-458
  • Mots-clés: Aging PUF template attacks
  • DOI: 10.1145/3194554.3194638
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: NK:GLSVLSI-18
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Electronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Groupe: SEN
Probability Aware Fault-Injection Approach for SER Estimation
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  • Auteur(s) : Fabio Batagin Armelin, Lirida Alves de Barros Naviner et Roberto d'Amore
  • Conférence : Proceedings of IEEE Latin American Test Symposium (LATS)
  • Lieu: São Paulo, SP, Brazil
  • Date : Mars 2018
  • Réf. :
  • Mots-clés:
  • Réf. HAL :
  • Clé de citation: FA:LATS-18b
  • Catégorie : Article de colloque avec actes
  • Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique
  • Langue: Anglais
  • Audience: internationale
  • État: publié
  • Département: COMELEC
  • Projet structurant: NanoElec
  • Groupe: SEN
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