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Probability Aware Fault-Injection Approach for SER Estimation

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Auteur(s) : Fabio Batagin Armelin, Lirida Alves de Barros Naviner et Roberto d'Amore Conférence : Proceedings of IEEE Latin American Test Symposium (LATS) Lieu: São Paulo, SP, Brazil Date : Mars 2018

Réf. : Mots-clés: Réf. HAL : Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique Langue: Anglais Audience: internationale État: publié

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