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Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs

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Auteur(s) : Naghmeh Karimi, Jean-Luc Danger et Sylvain Guilley Revue: Journal of Electronic Testing Date : Octobre 2018

Réf. : vol. 34, n° 5, pp. 571--586 Mots-clés: DOI: 10.1007/s10836-018-5745-6 Réf. HAL : Catégorie : Article de revue avec comité de lecture Domaine(s) : Informatique/Cryptographie et sécurité, Mathématiques/Théorie de l'information et codage Langue: Anglais Audience: non spécifiée État: publié

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