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Behaviour Driven Development for Hardware Design

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Auteur(s) : Melanie Diepenbeck, Ulrich Kühne, Mathias Soeken, Daniel Grosse et Rolf Drechsler Revue: IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology Date : Octobre 2018 Réf. : vol. 11, pp. 29-45 Mots-clés: DOI: 10.2197/ipsjtsldm.11.29 Réf. HAL : URL

Clé de citation: MelanieDiepenbeck2018 Catégorie : Article de revue avec comité de lecture Domaine(s) : Informatique/Architectures Matérielles, Informatique/Ingénierie assistée par ordinateur, Informatique/Modélisation et simulation, Informatique/Systèmes embarqués Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Groupe: SEN

2018 Workshop on Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography (FDTC)

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Auteur(s) : Laurent Sauvage et Joan Daemen Conférence : Fault Diagnosis and Tolerance in Cryptography Maison d'édition: IEEE Computer Society Date : Septembre 2018 Réf. : Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: LS:FDTC-18 Catégorie : Actes complets d'un colloque Domaine(s) : Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Groupe: SEN

Compressed Sensing for Wideband HF Channel Estimation

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Auteur(s) : Elaine Crespo Marques, Nilson Maciel, Lirida Alves de Barros Naviner, Hao Cai et Jun Yang Conférence : 4th International Conference on Frontiers of Signal Processing Lieu: Poitiers, France Date : Septembre 2018 Réf. : pp. 1-5 Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: EM:ICFSP-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Traitement du signal et de l'image Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Groupe: SEN

Analysis of Mixed PUF-TRNG Circuit Based on SR-Latches in FD-SOI Technology

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Auteur(s) : Jean-Luc Danger, Risa Yashiro, Tarik Graba, Yves Mathieu, Abdelmalek Si-Merabet, Kazuo Sakiyama, Noriyuki Miura, Makoto Nagata et Sylvain Guilley Conférence : EuroMicro Digital System Design (DSD2018) Lieu: Prague Date : Août 2018 Réf. : Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: JLD:DSD-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Electronique Langue: Anglais Audience: non spécifiée État: à paraître Département: COMELEC Groupe: SEN

Pre-Silicon Embedded System Evaluation as new EDA for Security Verification

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Auteur(s) : Sofiane Takarabt, Kais Chibani, Youssef Souissi, Laurent Sauvage, Sylvain Guilley, Adrien Facon et Yves Mathieu Conférence : International Verification and Security Workshop (IVSW) Lieu: Platja d’Aro, Spain Date : Juin 2018 Réf. : Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: LS:IVSW-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Electronique Langue: Anglais Audience: non spécifiée État: publié Département: COMELEC Groupe: SEN

Optimum NMOS/PMOS Imbalance for Energy Efficient Digital Circuits

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Auteur(s) : Francisco Veirano, Fernando Silveira et Lirida A. B. Naviner Conférence : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) Lieu: Florence, Italy Date : Mai 2018 Réf. : Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: FV:ISCAS-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique, Sciences de l'ingénieur/Electronique Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Projet structurant: NanoElec Groupe: SEN

Enabling Resilient Voltage-Controlled MeRAM Using Write Assist Techniques

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Auteur(s) : Hao Cai, You Wang, Lirida Alves de Barros Naviner, Jun Yang, Wang Kang et Weisheng Zhao Conférence : IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS) Lieu: Florence, Italy Date : Mai 2018 Réf. : Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: HC:ISCAS-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Projet structurant: NanoElec Groupe: SEN

Design Space Exploration of Magnetic Tunnel Junction based Stochastic Computing in Deep Learning

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Auteur(s) : You Wang, Yue Zhang, Zhabg Youguang, Weisheng Zhao, Hao Cai et Lirida A. B. Naviner Conférence : To appear in Proceedings of ACM Great Lakes Symposium on VLSI (GLSVLSI) Lieu: Chicago, Illinois, USA Date : Mai 2018 Réf. : pp. 23-25 Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: YW:GLSVLSI-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Projet structurant: NanoElec Groupe: SEN

Impact of Aging on Template Attacks

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Auteur(s) : Naghmeh Karimi, Sylvain Guilley et Jean-Luc Danger Conférence : GLSVLSI Lieu: Chicago Date : Mai 2018 Réf. : pp. 455-458 Mots-clés: Aging PUF template attacks DOI: 10.1145/3194554.3194638 Réf. HAL :

Clé de citation: NK:GLSVLSI-18 Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Electronique Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Groupe: SEN

Probability Aware Fault-Injection Approach for SER Estimation

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Auteur(s) : Fabio Batagin Armelin, Lirida Alves de Barros Naviner et Roberto d'Amore Conférence : Proceedings of IEEE Latin American Test Symposium (LATS) Lieu: São Paulo, SP, Brazil Date : Mars 2018 Réf. : Mots-clés: Réf. HAL :

Clé de citation: FA:LATS-18b Catégorie : Article de colloque avec actes Domaine(s) : Sciences de l'ingénieur/Microélectronique Langue: Anglais Audience: internationale État: publié Département: COMELEC Projet structurant: NanoElec Groupe: SEN

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